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清洁度分析系统

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产品参数

产品编号: Emspira所属品牌: Leica
产品型号: 额定功率:按实际方案提供
所属类别: 清洁度分析系统所属用途: 金相组织观察
应用领域:
产品特性: 徕卡显微系统公司的清洁度分析系统可提供优化的软件和独特的目视与化学分析二合一解决方案。

徕卡Emspira清洁度分析系统

Cleanliness Analysis Systems

快速发现污染源

 

汽车与电子行业供应商和制造商可以使用有效可靠的技术清洁度解决方案来分析颗粒数量、尺寸和成分,确保提高产品性能和使用寿命。 徕卡显微系统公司的清洁度分析系统可提供优化的软件和独特的目视与化学分析二合一解决方案。

 

您将获得的优势

 

  • 在更短的时间内进行更多的分析,提高通量。
  • 更好地了解颗粒来源,改善风险评估,做出更有信心的决定。
  • 满足您当前的所有需求,并为不断变化的需求做好准备。

更快获得结果

确保更有效地获得清洁度分析结果:

  • 对于大小介于5-10微米之间的颗粒,可节省30%的过滤器样本扫描时间。
  • 对于大小超过25微米的颗粒,对过滤器样本上颗粒物的扫描速度可以提高3倍。

更快地识别过滤器样本上的反光颗粒,通过优化算法更快地计算不规则形状颗粒的圆形直径。

通过自动分析多个过滤器样本的颗粒进一步简化您的工作流程,通过每批次同时分析多个过滤器来节省时间。

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