倒置金相显微镜在半导体材料研究中的应用
倒置金相显微镜是一种专门用于金相分析的显微镜，其镜体设计与传统显微镜不同，物镜位于显微镜的底部，物体样品则位于上方。这种设计使得倒置显微镜更适用于较大样品或需要观察平坦表面的研究工作，尤其在半导体材料的研究与表征中。
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Leica DM2700 M LED照明正置材料显微镜。Leica DM2700 M为适用于明场、暗场、微分干涉、偏光以及荧光用途的多功能立式显微系统。
2017年01月04日CCM200C普通型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，与CCM-100C型的清洁度检测系统的差别在CCM-200C型是智能型，可以通过电脑任何控制平台。
2018年12月10日徕卡金相显微镜主要用于材料分析，金相组织观察，与同济大学合作的显微镜型号是DM6M为正置式三目镜，配了徕卡品牌DFC450型的500万物理像素摄像头…
2016年08月27日BAHENS仪器微信公众号
