7*12小时服务热线(业务咨询):400-099-6011

产品应用常识 常见问题 资料下载
首页 > 技术及应用 > 产品应用常识

产品应用常识

  • 徕卡清洁度的测定方法盘点

    清洁度的测定方法盘点 清洁度测定方法对过程控制、品质保证和失效分析非常重要,是概括用于获得有关测定主体如各种机械设备、电子零件等清洁度数据的详细过程。 检...
  • 冷冻透射电子显微镜的投入式冷冻:应用

    冷冻温度(cryo-TEM)下完全含水、未染色标本的透射电子显微镜是结构生物学、细胞生物学、药理学和其他科学分支的通用工具。
  • 一文了解X射线荧光光谱仪(XRF)

    用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
  • X射线检测机上容易被忽视的清扫与点检

    现在的X射线检测机不仅用于异物检测,而且,还在众多领域被作为多功能复合检测机使用,因此,与其它机器一样,需要进行定期清扫和点检。但是,由于时间的限制和人手的不足,很多情况下,无法按照使用说明书上描述的内容进行规范作业。
  • 使用“二合一法”解决方案进行清洁度分析

    徕卡 DM6 M LIBS 材料分析解决方案 (参考图 1) 等二合一解决方案将光学显微术 (目视分析) 和激光诱导击穿光谱 (LIBS) (化学分析) 相结合。与扫描电镜检查法 (SEM) 和能量色散谱 (EDS) 等其他方法进行比较,在有效清洁度分析中占据着优势。
  • 如何清洁电子显微镜原件?

    为了获得高质量的显微图像,显微镜光学元件的清洁至关重要。 脏的显微镜应予以清洁,以避免质量受到影响。 如果决定自行完成这项工作,应该小心,以免损坏灵敏的显微...
367条记录 25/62 < 1 ... 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 ... 62 >

下载

BAHENS仪器微信公众号

Copyright © 2010 BaHens(CHINA) INSTRUMENT CO.,LTD 沪ICP备10009833号-16