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清洁度分析系统

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产品参数

产品编号: 清洁度分析系统BH-CIA780所属品牌: BAHENS
产品型号: BH-CIA780 额定功率:按实际方案提供
所属类别: 清洁度分析系统所属用途: ISO4406
应用领域:
产品特性: 清洁度分析系统BH-CIA780由原装进口奥林巴斯(OLYMPUS)显微镜、德国原装进口电动台,自动偏振照明,自动拍照系统、全自动清洁度分析软件组成。 按照各种国内及国际标准:包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等,以及客户自定义的标准,自动生成专 业的清洁度评级和分析报告。

清洁度分析系统BH-CIA780

 

 

显微镜

▪ 原装进口奥林巴斯(OLYMPUS)显微镜SZ61

 

 

检测内容

▪ 杂质平面尺寸(可扩展杂质高度测量)

▪ 杂质数量

▪ 杂质形状分类:颗粒或纤维

▪ 杂质性质分类:反光(金属),亚光(非金属,金属氧化物)

 

 

 

偏振光照射

 

 

依据杂质的反光和亚光在图像上的灰度差别,为金属与非金属颗粒的判定和判定提供至直接的参考数据和影像,用偏振光照射,记录在两个情况下进行比较,然后用于准确区分金属和非金属颗粒。

 

 

视场自动定位

 

 

▪ 采集过程自动拍照、照片自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;

 

▪ 提供视场图片浏览功能,可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。

 

 

软件分析

 

 

▪ 主界面包含多种数据展示方式:map图、颗粒分析结果、颗粒数据列表、统计直方图等。

 

▪ 支持模板化报告生成模式,包含统计数据、评级、滤片全貌图、最至大颗粒照片等信息。

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