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清洁度分析系统

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产品参数

产品编号: 清洁度分析系统BH-CIA200所属品牌: BAHENS
产品型号: BH-CIA200 额定功率:按实际方案提供
所属类别: 清洁度分析系统所属用途: ISO16232
应用领域:
产品特性: 清洁度分析系统BH-CIA200对所拍摄的杂质,自动检测其数量,尺寸,形状等参数。依据杂质的反光和亚光在图像上的灰度差别,为金属与非金属颗粒的判定和判定提供直接的参考数据和影像。依据不同长宽比的设定对纤维与非纤维进行精 确分类。

清洁度分析系统BH-CIA200

 

 

显微镜

立体显微镜(符合ISO16232规定),放大6倍-50倍。

 

 

检测内容

▪ 杂质平面尺寸

▪ 杂质数量

▪ 杂质形状分类:颗粒或纤维

▪ 杂质性质分类:反光(金属),亚光(非金属,金属氧化物)

 

 

 

自动拍照、视场自动定位

 

 

▪ 采集过程自动拍照、照片自动保存,进度状态实时可见;

▪ 照片信息存入数据库,方便查询;

▪ 提供视场图片浏览功能,可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。

 

 

 

自动识别

 

▪ 系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。

▪ 同时支持修改颗粒。

▪ 提供多种统计分析工具:MAP图、颗粒列表、统计结果、直方图等;

 

 

清洁度报告

 

▪ 专 业清洁度报告,支持模板化报告生成模式;

▪ 包含统计数据、评级、滤片全貌图、至大颗粒照片等信息;

 

 

自动扫描样品

 

 

▪ 支持多种扫描方式:矩形区域、圆形区域、环形区域、扇形区域等;满足各种应用需要;

▪ 新精 确模式可以轻松辨认原本会产生误判的亚光色金属颗粒。

▪ 德国Märzhäuser原装高精度电动扫描型自动扫描台;行程76×52mm。

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